技術(shù)文章
當(dāng)前位置:首頁
技術(shù)文章
11-10
數(shù)顯維氏硬度計作為材料硬度檢測的重要工具,憑借其性能優(yōu)勢和廣泛的應(yīng)用范圍,在工業(yè)生產(chǎn)、材料研究和質(zhì)量控制等領(lǐng)域發(fā)揮著重要的作用。一、性能優(yōu)勢解析數(shù)顯維氏硬度計的核心優(yōu)勢在于其高精度測量能力。通過數(shù)顯技術(shù),能夠直接顯示硬度測量值,避免了傳統(tǒng)指針式讀數(shù)的視覺誤差,提高了測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。操作簡便性是其另一突出特點,直觀的用戶界面和簡化的操作流程使檢測人員能夠快速掌握使用方法,降低了對操作人員專業(yè)技能的要求。測量重復(fù)性優(yōu)異,能夠在相同測試條件下獲得高度一致的硬度值,為質(zhì)量控...
查看更多10-23
進口輪廓儀作為精密測量儀器,在表面形貌檢測領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。其技術(shù)特點和廣泛的應(yīng)用范圍,使其成為工業(yè)和科學(xué)研究中重要的工具。??一、技術(shù)特點??具有高精度的測量能力,能夠精確捕捉物體表面的微小變化。其測量系統(tǒng)采用光學(xué)或機械原理,確保檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。這種高精度特性使得儀器能夠滿足對表面質(zhì)量要求較高的檢測需求。儀器的測量范圍廣泛,能夠適應(yīng)不同尺寸和形狀的樣品檢測。無論是平面、曲面還是復(fù)雜幾何形狀的表面,都能夠進行精確測量。測量速度快捷,能夠在短時間內(nèi)完成大量數(shù)據(jù)的采集...
查看更多10-22
原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope,AFM)是一種基于探針與樣品表面相互作用的高分辨率顯微技術(shù),能夠在納米尺度上對樣品進行三維形貌測量和多種物理、化學(xué)性質(zhì)分析。其核心優(yōu)勢在于無需真空環(huán)境、可測量多種材料(包括絕緣體),且能提供遠超光學(xué)顯微鏡的分辨率(橫向分辨率達0.1-0.2納米,縱向分辨率達0.01納米)。以下是AFM的主要測量功能及應(yīng)用場景:一、表面形貌測量1、三維形貌重構(gòu)通過探針掃描樣品表面,記錄探針垂直位移(Z軸信號),生成高分辨率的三維表面圖像...
查看更多10-16
蔡司掃描電鏡是材料科學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域的重要觀察工具,能夠提供高分辨率的表面形貌圖像。掌握正確的操作方法和樣品制備技巧,對獲得高質(zhì)量的觀察結(jié)果至關(guān)重要。??一、操作指南??操作蔡司掃描電鏡時,先要確保儀器處于穩(wěn)定的工作狀態(tài)。開機后需要給予適當(dāng)?shù)念A(yù)熱時間,使電子光學(xué)系統(tǒng)達到較佳工作條件。在正式觀察前,要進行電子槍、探測器等關(guān)鍵部件的功能檢查,確保儀器各項參數(shù)正常。樣品臺的定位和移動需要謹(jǐn)慎操作。將樣品放置在樣品臺上時,要確保位置準(zhǔn)確且固定牢固,避免觀察過程中發(fā)生位移。通過控制樣品...
查看更多9-18
三豐粗糙度儀(以SJ-210為例)的校準(zhǔn)步驟如下:準(zhǔn)備階段放置標(biāo)準(zhǔn)塊:將校準(zhǔn)用的標(biāo)準(zhǔn)粗糙度塊(表面切削紋路需垂直于檢出器測量方向)放置在校準(zhǔn)支架上,確保其穩(wěn)固且位置準(zhǔn)確。安裝儀器:將三豐粗糙度儀(如SJ-210)的驅(qū)動部(含探頭)輕輕放置在標(biāo)準(zhǔn)塊上,確保探頭與標(biāo)準(zhǔn)塊表面接觸良好且垂直。進入校準(zhǔn)模式開機與導(dǎo)航:按下儀器電源鍵開機,等待自檢完成后,通過按鍵(如Home→MainMenu)進入主菜單界面。選擇校準(zhǔn)測量:在主菜單中找到并選擇“Calib.Meas.”(校準(zhǔn)測量)選項,...
查看更多三坐標(biāo)及自動化檢測線 粗糙度輪廓儀、測高儀 直讀光譜儀 金相顯微鏡 光學(xué)軸類測量儀 測長機、投影儀、影像儀 原子力顯微鏡 圓度儀、圓柱度儀 掃描電子顯微鏡 工具顯微鏡 測厚儀系列 硬度計系列 試驗機系列
13967146609@126.com
掃一掃,添加微信
版權(quán)所有©2025 杭州科賦機電設(shè)備有限公司 備案號:浙ICP備2021005838號-1 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)